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非接觸粗糙度測量儀主要應用于:油墨厚度測量,MLCC厚度測量,厚膜電路測量,銀漿厚度測量,激光刻蝕測量,涂膠厚度測量,半導體、特種材料表面粗糙度測量等。
材料表面3D輪廓儀具有專業的測量能力,可在幾秒內就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數據,檢測速度與深度量測能力優于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機快又安全,維護成本更低。
白光干涉3D形貌測量儀具有專業的測量能力,可在幾秒內就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數據,檢測速度與深度量測能力優于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機快又安全,維護成本更低。
三維光學形貌儀具有3D測量能力,可在幾秒內就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數據,檢測速度與深度量測能力優于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機快又安全,維護成本更低。
納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量系統基于白光干涉儀原理、結合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準確獲 得各種精密器件和材料表面形貌數據,適用于反 射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多種表面測量求,能夠實現納米級精度測量、重構表面形 貌3D輪廓。